AMICS（Advanced Mineral Identification and Characterization System） 是由國際工藝礦物學家團隊推出的第三代全自動礦物參數(shù)定量分析系統(tǒng)，通常與高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM）和能譜儀（EDS）集成，用于對礦石、巖石、尾礦等固體樣品進行微米級礦物組成、嵌布特征與解離行為的自動化定量表征。

蔡司Sigma 360系列場發(fā)射掃描電鏡

- 系統(tǒng)全稱與歸屬：AMICS（Advanced Mineral Identification and Characterization System），屬布魯克（Bruker）旗下礦物分析軟件平臺，常搭載于 ZEISS 場發(fā)射掃描電鏡 SEM（如 Sigma 300）及 Bruker Xflash 能譜儀。

- 最小可識別尺寸：約 1 微米，可識別亞晶粒級礦物相；典型分析面積可達 >100 mm2，直徑 30 mm 樣品掃描時間約 15 分鐘。

- 礦物數(shù)據(jù)庫：內置 >2000 種常見礦物 的 BSE 灰度-元素成分（Be–U）指紋數(shù)據(jù)庫，支持基于灰度、元素比例與形貌的智能匹配識別。

- 核心分析參數(shù)：包括礦物種類與含量（modal abundance）、元素在礦物中的賦存狀態(tài)與分配、粒度分布（包括單體/連生顆粒）、解離度（liberation degree）、嵌布關系（如包裹、鑲嵌、連生）、理論回收率與品位估算 等工藝礦物學關鍵指標。

- 技術原理：同步采集 背散射電子（BSE）圖像 與 X 射線能譜（EDS）面掃描數(shù)據(jù)，通過軟件算法將灰度-成分空間映射至礦物數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)相自動識別與統(tǒng)計；不依賴電子背散射衍射（EBSD），但可與之聯(lián)用。

- 典型硬件配置：場發(fā)射 SEM（分辨率 ≤1.0 nm @15 kV） + 大面積 SDD 能譜（如 Bruker Xflash 6/60） + 高精度五軸電動樣品臺 + AMICS 分析軟件。

- 應用領域：礦業(yè)選冶流程優(yōu)化、難處理礦石（如微細粒金、稀土礦）賦存狀態(tài)研究、尾礦資源評估、煤灰礦物學、巖礦鑒定及地球化學勘查。

AMICS自動礦物分析系統(tǒng)分析流程圖

（圖片來自中國地質調查局油氣地質力學重點實驗室網(wǎng)站）

需注意：AMICS 本身是軟件+分析流程體系，非獨立硬件設備，其性能高度依賴所配 SEM/EDS 的分辨率與穩(wěn)定性。當前（2026年）主流版本已支持 AI 輔助相識別與大數(shù)據(jù)批量處理，但不包含 XRD 或化學分析功能，屬微觀物相定量工具?？蛻糁饕?/span>?礦業(yè)公司（如必和必拓、力拓等）、國家地質調查機構（如中國地質科學院）、高校（如中南大學、中國地質大學）及能源企業(yè)（如中石油、中石化下屬研究院）?，用于工藝礦物學、礦石解離度、巖心分析等。

樣品礦物分布圖

（圖片來自中國地質調查局油氣地質力學重點實驗室網(wǎng)站）

現(xiàn)有相關客戶：

1、中國地質調查局成都礦產(chǎn)綜合利用研究所  

2、中國地質科學院地質力學研究所

3、中國地質科學院礦產(chǎn)資源研究所

4、中國地質調查局油氣地質力學重點實驗室

5、自然資源部戰(zhàn)略性礦產(chǎn)綜合利用工程技術創(chuàng)新中心